產(chǎn)品列表 / products
| 超聲測(cè)厚是一種廣泛使用的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，它用來(lái)從材料一側(cè)測(cè)量材料厚度。在19世紀(jì)40年代后期，利用由聲納衍生的原理產(chǎn)生了*臺(tái)商業(yè)超聲測(cè)厚儀器。在19世紀(jì)70年代，小型便攜式儀器由于優(yōu)化了大多數(shù)檢測(cè)應(yīng)用而被廣泛應(yīng)用。之后，在微處理技術(shù)上的發(fā)展使得如今的、便于使用的小型儀器的性能達(dá)到了一個(gè)新的水平。 |
| 可測(cè)量什么？ |
| 幾乎任何一種普通工程材料都可以用超聲方法來(lái)測(cè)量。超聲測(cè)厚儀可用于金屬、塑料、復(fù)合材料、纖維玻璃、陶瓷和玻璃。在線或加工過(guò)程中的擠壓塑料和金屬的測(cè)量是可行的，同樣也可測(cè)量多層軋制冷作件或涂層。液面高度和生物學(xué)樣品也可測(cè)量。超聲測(cè)量一直是*無(wú)損的方法，它無(wú)需切開(kāi)測(cè)量物。 常規(guī)的超聲測(cè)量一般不適用于包括木頭、紙、混凝土和泡沫產(chǎn)品的材料。 |
| 超聲測(cè)厚儀如何工作？ |
| 聲能能在一個(gè)很寬的頻譜范圍產(chǎn)生，能聽(tīng)到的聲音存在在一個(gè)相當(dāng)?shù)偷念l率范圍，其上限約為每秒20000個(gè)周期（20KHz）。頻率越高，我們感覺(jué)的音調(diào)越高。超聲是一個(gè)在很高頻率的聲能，超過(guò)了人類(lèi)能聽(tīng)到的界限。大部分超聲測(cè)試是在頻率范圍從500KHz到20MHz之間實(shí)施的，但是某些特殊的儀器頻率低至50KHz甚至更低并且高至225MHz。無(wú)論是什么頻率，聲能都由根據(jù)物理學(xué)波的基本定律，通過(guò)空氣或鋼介質(zhì)來(lái)傳播的機(jī)械振動(dòng)模式組成。 所有的超聲測(cè)厚儀由稱(chēng)之為超聲波換能器的探頭產(chǎn)生一個(gè)聲脈沖，能測(cè)量它通過(guò)測(cè)試塊的行程時(shí)間多長(zhǎng)。因?yàn)槁暡〞?huì)在不同的材料邊界反射，一般在“脈沖/回波"模式下從一側(cè)來(lái)實(shí)施測(cè)量，這樣儀器測(cè)量了在試塊遠(yuǎn)側(cè)或底面回波的反射脈沖之間的來(lái)回傳播時(shí)間。 探頭包含一個(gè)由短電脈沖激發(fā)來(lái)產(chǎn)生一個(gè)超聲波脈沖的壓電晶片。聲波耦合進(jìn)入試塊并在其中傳播，直到遇到背壁面或其他邊界。反射信號(hào)會(huì)往回傳播到探頭，將聲能轉(zhuǎn)換為電能。事實(shí)上，儀器接收來(lái)自另一側(cè)的回波，時(shí)間間隔只有百萬(wàn)分之幾秒。儀器用在測(cè)試材料中的聲速進(jìn)行編程，從而能夠使用簡(jiǎn)單的數(shù)學(xué)關(guān)系式來(lái)計(jì)算厚度： T = V x t/2 此處：
 檢測(cè)材料中的聲速實(shí)計(jì)算中的一個(gè)基本組成部分，注意到這一點(diǎn)是重要的。不同的材料以不同的聲速傳播聲波，一般來(lái)說(shuō)，在堅(jiān)硬的材料中聲速更快而在柔軟的材料中聲速更慢，而且聲速會(huì)隨溫度明顯變化。因此，經(jīng)常需要對(duì)超聲測(cè)厚儀校準(zhǔn)被測(cè)材料的聲速，而且達(dá)到精度只能和校準(zhǔn)的精度一樣好。 在MHz范圍的聲波不能有效地通過(guò)空氣傳播，因此在探頭和試塊之間常用一滴液體耦合劑來(lái)獲得良好的聲波傳播。常用的耦合劑為甘油、丙二醇、水、油和凝膠體。只需要一點(diǎn)點(diǎn)量，就足夠填滿這極薄的空氣層，否則它就會(huì)在探頭和試塊間存在空隙。 常用的測(cè)量聲波在試塊中傳播的時(shí)間間隔的方法有三種。模式1是zui 常用的方法，只需簡(jiǎn)單測(cè)量在產(chǎn)生聲波的激勵(lì)脈沖和*個(gè)回波之間的時(shí)間間隔，并減去用來(lái)補(bǔ)償儀器、電纜線和探頭延遲的微小的零位偏移值即可。模式2測(cè)量來(lái)自試塊表面的回波和*個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔。模式3測(cè)量在兩個(gè)相繼底面回波之間的時(shí)間間隔。探頭類(lèi)型和特定的應(yīng)用要求通常會(huì)規(guī)定模式的選擇。 |
| 探頭類(lèi)型 |
| 直接接觸式探頭：正如名稱(chēng)所表明的那樣，直接接觸式探頭用于與試塊直接接觸。使用接觸式探頭的測(cè)量通常是zui容易實(shí)現(xiàn)的，對(duì)于非腐蝕測(cè)量的大多數(shù)常規(guī)測(cè)厚應(yīng)用，它們經(jīng)常是的方法。 |
| 延遲線探頭：延遲線探頭將一個(gè)由塑料、環(huán)氧或熔融硅作為一體的柱體作為在激發(fā)元件和試塊之間的延遲線。使用它們的主要原因是用于薄材料測(cè)量，在這種情況，將激發(fā)脈沖和底面回波分離開(kāi)來(lái)是非常重要的。延遲塊可用作熱絕緣體，防止對(duì)熱敏感的探頭晶片直接和熱的工件接觸；同時(shí)延遲線也可為具有形狀或仿形狀用來(lái)改善對(duì)尖銳曲面或狹窄面上的聲能耦合。 |
| 水浸探頭：水浸探頭使用柱狀水或水池來(lái)將聲能耦合入試塊，它們也可用于移動(dòng)產(chǎn)品的在線或加工過(guò)程中的測(cè)量；是用于在小半徑、凹槽的掃描的測(cè)量或耦合優(yōu)化。 |
| 雙晶探頭：雙晶片的探頭，或簡(jiǎn)稱(chēng)為雙晶探頭，主要用于粗糙、腐蝕表面的測(cè)量。它有獨(dú)立的發(fā)射晶片和接收晶片，以一個(gè)小角度安裝在延遲塊上從而將能量聚焦在試塊表面下的一個(gè)選定的距離上。雖然有時(shí)候雙晶探頭測(cè)量不如其他類(lèi)型探頭，在腐蝕測(cè)量應(yīng)用中它們通常能提供顯著的良好的性能。 |
| 4.需考慮的事情 |
| 在任意超聲測(cè)厚應(yīng)用中，儀器和探頭的選擇取決于被測(cè)材料、厚度范圍、幾何形狀、溫度、精度要求以及可能存在的一些特殊條件。下面列出了需要考慮的主要因素： |
| 材料：被測(cè)的材料類(lèi)型和厚度范圍在選擇儀器和探頭時(shí)是zui重要的因素。許多普通工程材料，包括大多數(shù)金屬、陶瓷和玻璃能夠很有效地傳播超聲，因此有一個(gè)很廣的厚度范圍可以很容易地被測(cè)量。大部分塑料會(huì)更快地吸收超聲能量，因此其zui大厚度范圍有更多的限制，但是在許多制造業(yè)情況依然能夠很容易地完成測(cè)量。橡膠、纖維玻璃和許多復(fù)合材料衰減更大而且經(jīng)常需要具有優(yōu)化低頻操作的脈沖/接收的高穿透力儀器。 |
| 厚度：厚度范圍也影響該選擇的儀器和探頭類(lèi)型。一般而言，薄材料用高頻探頭，厚的或衰減性材料用低頻探頭，延遲塊探頭用于非常薄的材料，雖然延遲塊探頭（和液浸探頭）由于多次界面回波的干擾在zui大可測(cè)厚度上會(huì)有更多的限制。在那些涉及到比較寬的厚度范圍并且/或者多層材料的情況下，可能需要不止一種類(lèi)型的探頭。 |
| 幾何形狀：當(dāng)工件表面曲率增加時(shí)，在探頭和試塊間的耦合效果會(huì)降低，因此當(dāng)曲率增加時(shí)，探頭尺寸一般都要減小。在一個(gè)半徑極小，尤其是凹面時(shí)，可能需要特殊的仿型延遲塊探頭或非接觸液浸探頭來(lái)達(dá)到適當(dāng)?shù)穆曬詈稀Ｑ舆t式探頭和液浸式探頭也可用于凹槽、孔和限制性接觸的類(lèi)似區(qū)域。 |
| 溫度：常規(guī)接觸式探頭一般用于的表面溫度約為125° F或50° C。在更高溫度的材料上使用，大多數(shù)直接接觸式探頭可能會(huì)由于熱膨脹效應(yīng)導(dǎo)致*性損壞。在那些應(yīng)用中，應(yīng)該一直使用帶有耐熱延遲線的延遲線探頭、液浸探頭或高溫雙晶探頭。 |
| 相位顛倒：由低聲阻抗材料（密度乘聲速）粘合到高聲阻抗材料的特殊應(yīng)用，典型例子包括在鋼或其他金屬的上的塑料、橡膠、玻璃的覆蓋層、以及在纖維玻璃上的聚合體覆蓋層。在這些情況下來(lái)自兩種材料界間的回波將會(huì)相位顛倒，或相對(duì)于空氣邊界的回波相位反向。這種情況通常建議在儀器上做簡(jiǎn)單的設(shè)置改變，但是如果不把這一點(diǎn)考慮進(jìn)去，讀數(shù)將是不準(zhǔn)確的。 |
| 精度：在一個(gè)給定的應(yīng)用中，許多因素會(huì)影響測(cè)量的精度，包括正確的儀器校準(zhǔn)、材料聲速的均勻性、聲衰減和散射、表面粗糙度、曲率、聲耦合不良、以及底面不平行度。在選擇儀器和探頭時(shí)所有這些因素都應(yīng)該考慮進(jìn)去。采用正確的校準(zhǔn)，測(cè)量通常可達(dá)到精度為±0.001"或0.01mm，而且在某些應(yīng)用中精度可達(dá)到0.0001"或0.001mm。在一個(gè)給定的應(yīng)用中，精度通過(guò)使用知道厚度的參考試塊來(lái)確定。通常，使用延遲塊或液浸探頭的模式3來(lái)測(cè)量的儀器可zui地測(cè)得工件的厚度。 |
